目前开发了一种用于对晶片上的微型LED进行高速检查的系统，以检测其外观，强度和发光波长的异常。该检查系统利用了基于我们先进的图像处理技术的光致发光（PL）测量技术*和具有我们独特的光学设计技术的新开发的成像模块。我们将此微型LED PL检查系统称为“ MiNYTM PL”，类型编号C15740-01。
MiNYTM PL在检查微型LED时会做出快速的通过/失败决定，这将有助于提高用于显示应用的产品良率，还将有助于提高微型LED的研发效率。此外，MiNYTM PL还可以简化未来大规模生产线中的微型LED的100％检查过程。MiNYTM PL的销售将于2021年3月8日星期一开始，向国内和海外市场的LED和显示器制造商销售。
* PL测量技术是一种通用方法，可通过以非接触且非侵入性的方式捕获和分析光激发的光致发光图像来评估LED和其他设备的特性。
